建筑物表面氡析出率的活性炭测量方法

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。第1章以活性炭累积吸附、γ能谱测建筑物及构件平整表面；天花板、楼地面、内外墙均属此范围，土壤岩石可参照。2.2氡仅指222Rn，短寿命子体为218Po、214Pb、214Bi、214Po。2.3面积析出率为单位时间、单位表面进入空气的氡活度，单位Bq·m⁻²·s⁻¹，不是空气氡浓度。

依据：PDF 第 1 页，1；PDF 第 1 页，2.1-2.3

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。3.1低放射材料圆柱盒（聚乙烯、有机玻璃、不锈钢等），底径等于或略小于γ探测器，高宜为直径1/3～2/3；炭选18～28目、微孔发达大比表面积优质椰壳颗粒。透气网罩栅孔密度需匹配粒径；真空封泥用于密封炭盒与表面缝隙并固定位置。

依据：PDF 第 1 页，3.1.1-3.1.4

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。3.2.1 NaI(Tl)圆柱晶体不小于φ7.5cm×7.5cm、配低噪声光电倍增管，对137Cs 661.6keV分辨率优于9%；Ge(Li)/HPGe灵敏体积>50cm³，对60Co 1332.5keV分辨率优于2.2keV。百分分辨率和keV宽度不能混用。

依据：PDF 第 1 页，3.2.1

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。3.2.2低核素含量且无表面污染材料，壁厚≥10cm铅当量，探测器居中，内壁到探测器表面最小距离>13cm。内衬原子序数从外向内递减，可依次为镉1.6mm、铜0.4mm、有机玻璃2～3mm，并设便于取样的门。净距不是屏蔽材料厚度。

依据：PDF 第 2 页，3.2.2

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。3.2.3纹波≤±0.01%，半导体高压0～5kV连续可调；3.2.4放大器需匹配前置与脉冲高度分析器并有波形调节。NaI不少于256道，半导体不少于4096道；列谱数据打印机，允许微机在线能谱处理或计算器人工处理。

依据：PDF 第 2 页，3.2.3-3.2.7

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。4.1炭在120℃烘7～8h去残氡，装满称重，各盒重量差<0.5%，加网罩盖密封。另留1～2个未暴露氡及子体的“新鲜”炭盒在实验室作本底，不能用暴露盒替代。

依据：PDF 第 2 页，4.1

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。4.2先清表面灰尘砂粒，开盒倒扣、周围真空泥固定封严，记录开始时刻，收集5～7天。结束除泥、小心取盒、盖严并记录结束时刻再带回；起止记录是后续累积和衰变校正的输入。

依据：PDF 第 2 页，4.2

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。4.3先用226Ra检验源检查调好谱仪，同条件测新鲜炭盒本底；收集盒放3h以上。高分辨仪可选214Bi 0.609MeV及214Pb 0.241、0.295、0.352MeV的一或多个峰；NaI测对应能区计数率。

依据：PDF 第 2 页，4.3

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。第5章 R=(n_c−n_b)exp(λt₂)λ/{Sε[1−exp(−λt₁)]}。n_c/n_b为样品/新鲜盒同峰或能区计数率s⁻¹，t₁收集时间、t₂收集结束至测量开始间隔，均秒；ε对应峰/能区效率，S面积m²，λ=2.1×10⁻⁶s⁻¹，结果Bq·m⁻²·s⁻¹。t₁与t₂不能互换，也不能把天数直接代入秒制常数。

依据：PDF 第 2 页，5式1；PDF 第 2 页，5变量；PDF 第 3 页，5变量续

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。6.1.1基质与炭盒同种、等重；6.1.2用万分之一天平准确称国家法定计量部门认定、比活度已知的碳酸钡镭粉末，总活度50～500Bq，比活度相对标准偏差≤4%。不能用不同基质或未经认定活度粉末代替。

依据：PDF 第 3 页，6.1.1;6.1.2

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。6.1.3在500mL烧杯溶粉、稀至足够浸入全部炭，加入炭搅拌；6.1.4红外烘近恒重转干净杯，用少量盐酸洗旧杯、洗液入炭且勿碰新杯壁，再烘搅至恒重。原文写“1mol盐酸”“0.1mol盐酸”未列/L，本FAQ不自行改成浓度单位，实际使用须核对完整权威文本。

依据：PDF 第 3 页，6.1.3;6.1.4

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。6.1.5炭转入空盒铺平、加盖密封放30天，待226Ra与氡及子体达到放射性平衡备用；6.1.6综合不确定度按一倍标准偏差控制在±5%以内，不能与标准粉末比活度4%条件混为一个指标。

依据：PDF 第 3 页，6.1.5;6.1.6

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。6.2按说明书安装调整全套探测器、电源、前放、谱放、分析器、计算机至最佳状态；与样品同条件获取已知226Ra体源和新鲜盒本底。净谱可选214Pb三峰及214Bi 0.609MeV；NaI未清楚分峰时可用包含一个以上峰的能区净计数，再据净峰/能区计数率算效率。

依据：PDF 第 3 页，6.2

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。第7章 σ_total=√(σ_calib²+σ_ct²)，分别为总、效率刻度和计数相对标准偏差，定义均标%。原式σ_ct=√(N_s/t_s²+N_b/t_b²)/(N_s/t_s−N_b/t_b)，N_s/N_b为样品/新鲜盒积分计数，t_s/t_b各自计数时间。式(3)未另印×100，而变量标百分数；保留该表达，不能混用比例值与百分数相加。

依据：PDF 第 3 页，7式2及变量；PDF 第 3 页，7式3及变量

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。不能。8.1倒扣炭盒结果相当于外界空气氡浓度为0时的最大析出率，非自然状态；不考虑外界风速交换率，但局部含水量改变可有微小干扰。8.2实际还受气象、温湿度、气压、风速变化影响，因此只代表对应环境条件下收集期间的平均值。

依据：PDF 第 3 页，8.1前段；PDF 第 4 页，8.1续;8.2

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。8.3写214Pb 0.242MeV受钍射气子体212Pb 0.238MeV峰干扰，影响<1%；高分辨半导体不存在该干扰。4.3/6.2选峰写0.241MeV，8.3写0.242MeV，FAQ按各条保留，不把原印差别静默统一。

依据：PDF 第 4 页，8.3；PDF 第 2 页，4.3.3峰值

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。8.4及附录A主要取决于γ谱仪；A1定义为给定置信度系统可测最低活度。A2 LLD≈(Kα+Kβ)σ₀，Kα对应误判存在风险α，Kβ对应探测存在置信度1−β，σ₀为净计数统计标准偏差。α、β同水平时Kα=Kβ=K，LLD≈2Kσ₀；不能未给置信条件直接报统一下限。

依据：PDF 第 4 页，8.4；PDF 第 5 页，A1；PDF 第 5 页，A2式A1及变量；PDF 第 5 页，A2式A2

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。按表头α、1−β、K、2√2K同一行对应查询：0.01/0.99→2.327/6.59；0.02/0.98→2.054/5.81；0.05/0.95→1.645/4.66；0.10/0.90→1.282/3.63；0.20/0.80→0.842/2.38；0.50/0.50→0/0。95%配α=0.05这一行，不能把1.645与其他行的风险拼接。

依据：PDF 第 5 页，A2表A1

以下仅解释GB/T16143—1995原文，当前有效性尚未核实。A3限于炭盒内氡活度接近本底，LLD_CT=2√2·K·√N_b/t_b；t_b为本底谱测量时间，N_b为对应峰/能区本底计数，t_b在根号外。A4再按正文式(1)换算最小表面析出率，不能把计数率下限直接标成Bq·m⁻²·s⁻¹。

依据：PDF 第 5 页，A3;A4