用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法（已被代替）

范围

1.1 本标准规定了使用高能量分辨能力的半导体γ射线能谱仪分析低比活度γ放射性核素的固态、液态或可以转化为这两种物态的均匀样品的常规方法。1.2 本标准适用于分析活度大于谱仪的探测限L_D（附录A（补充件）），并且各种核素的γ特征谱线能够分辨开的样品。因此，一般对样品只作诸如烘干、粉碎、搅匀等简单的物理处理，而不作化学分离。当必须对样品作化学分离时，其回收率等参数应按相应规程测定。

依据：PDF 第 1 页，第1章 范围

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官方详情页标题标注“已被代替”；来源：https://www.nhc.gov.cn/wjw/pcrb/201212/34166.shtml

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• GB/T11713-1989
• 用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法（已被代替）